TP200:高精度三维测量的坐标测量机测头系统
在精密测量领域,TP200 测头系统以其卓越的性能和多样化的功能,成为数控坐标测量机的理想选择。无论是对高精度测量的追求,还是应对复杂测量环境的挑战,TP200 都展现出强大的适应性和可靠性。
一、丰富的系统组件
TP200 系统组件涵盖多个关键部分,为精准测量提供全面支持:
测头本体:包括 TP200 和 TP200B 两种。TP200 采用微应变片传感器,实现高精度的重复性和*的三维轮廓测量,即使搭配长测针也能保持稳定性能。TP200B 技术与 TP200 相同,但允许更高的振动公差,可有效克服因坐标测量机传导振动或长测针在高速移动时引发的误触发问题。不过,不推荐 TP200B 配用 LF 模块或曲柄 / 星形测针。
测针模块:有固定超程测力的 SF(标准测力)、LF(低测力)以及具有长超程的 EO 模块可供选择。不同模块适用于不同的测量场景,如 SF 适用于一般使用,LF 适用于小直径测球或需小测力的场合,EO 模块则提供额外超程,使坐标测量机在较高碰触速度下能安全停止并回退。
测头接口:PI 200 测头接口为整个系统的数据传输和控制提供稳定支持。
测针交换架:SCR200 测针交换架可对六个 TP200 测针模块进行自动高速交换,由独立的 PI200 供电,确保安全的测针交换。此外,还有手动操作的 MSR1 模块存放架。
二、突出的特性与优点
先进测量技术:运用应变片技术,实现高精度重复性和三维轮廓测量。传感器技术提供亚微米级的重复性,消除了机械结构式测头存在的各向异性问题,确保测量结果的准确性和稳定性。
零复位误差与六向测量:具备零复位误差和无各向同性影响的特点,拥有六向测量能力,可全方位捕捉测量数据,满足复杂工件的测量需求。
长距离测量与快速交换:测针测量距离可达 100mm(GF 测针),能满足对较大尺寸工件或特殊位置的测量。同时,快速测头模块交换功能,无需重新标定测尖,大大节省了测量时间,提高了工作效率。
高耐用性:拥有大于 1000 万次触发的长寿命,在频繁使用的情况下仍能保持可靠性能,降低了设备更换和维护成本。
三、精准的规格参数
重复性与测量偏差:单向重复性在触发水平 1 时可达 0.40µm,触发水平 2 时为 0.50µm。XY(2D)轮廓形式测量偏差和 XYZ (3D) 轮廓测量偏差在不同触发水平下也有精准的参数表现,确保测量的高精度。
测力与超程测力:测力在 XY 平面(所有模块)为 0.02N,Z 轴(所有模块)为 0.07N。超程测力根据不同模块和方向有明确的数值范围,如 XY 平面(SF/EO 模块)为 0.2N 至 0.4N,为测量过程中的安全和准确性提供保障。
重量与安装:测头传感器和模块重量仅 22g,轻便的设计便于操作和安装。安装方式采用 M8 螺纹,方便快捷,确保安装的稳定性。
测针长度与交换架:推荐的测针长度根据不同模块有所区别,SF/EO 模块为 50mm 钢质至 100mm GF,LF 模块为 20mm 钢质至 50mm GF。测针交换架自动为 SCR200,手动为 MSR1,满足不同操作需求。
TP200 测头系统凭借其丰富的系统组件、突出的特性优点以及精准的规格参数,在精密测量领域脱颖而出。无论是在机械制造、电子加工还是航空航天等对测量精度要求极高的行业,TP200 都能成为保障产品质量和生产效率的关键工具,为复杂工件的测量提供高效、精准的解决方案。